ASTM D3954-1994(2004) 石蜡滴点的标准试验方法
时间:2024-05-09 20:48:59 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8878
【英文标准名称】:StandardTestMethodforDroppingPointofWaxes
【原文标准名称】:石蜡滴点的标准试验方法
【标准号】:ASTMD3954-1994(2004)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D21.02
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;蜡;抛光剂;地板覆盖物
【英文主题词】:droppoint;waxes
【摘要】:Waxesdonotgothroughasharpsolid-liquidphasechangewhenheatedandthereforedonothaveatruemeltingpoint.Asthetemperaturerises,waxesgraduallysoftenorbecomelessviscous.Forthisreason,thedeterminationofthesofteningpointmustbemadebyanarbitrarybutcloselydefinedmethodiftestvaluesaretobereproducible.Thistestisusefulindeterminingtheconsistencyofwaxes,andasoneelementinestablishingtheuniformityofshipmentsorsourceofsupply.Thistestmethodhasbeenfoundsuitableforalltypesofwaxesincludingparaffin,microcrystallinepolyethylene,andnaturalwaxes.1.1ThistestmethodcoversthedeterminationoftheASTMdroppingpointforwaxes.1.2Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:E42
【国际标准分类号】:
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:
【英文标准名称】:MeasuringVoltageDroponClosedArcingContacts
【原文标准名称】:闭合跳火触点上电压降的测量
【标准号】:ASTMB497-1989
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;特性;测量技术;电触点;电压降
【英文主题词】:voltagedrops;electriccontacts;measuringtechniques;electricalengineering;properties
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:17_220_20
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductoroptoelectronicdevicesforfibreopticsystemapplications-Measuringmethods
【原文标准名称】:光纤系统半导体光电器件.测量方法
【标准号】:BSEN62007-2-2000
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2000-10-15
【实施或试行日期】:2000-10-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;光学测量;半导体器件;发光强度;光纤;发光二极管;电气试验;光电晶体管;电子设备及元件;半导体二极管;电波测量;发光器件;光电子器件
【英文主题词】:Diodes;Discretedevices;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Fibreoptics;Infraredhight-emittingdiodes;Inspection;Integratedcircuits;Laserdiodes;Lasermodules;Light-emittingdevices;Light-emittingdiodes;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Opticalwaveguides;Optoelectronicdevices;Optoelectronics;Photodiodes;Photoelectricdevices;Phototransistors;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;Semiconductors;Specification(approval)
【摘要】:TobereadinconjunctionwithBSEN62007-1:2000
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:66P.;A4
【正文语种】:英语